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Hyper QV WLI影像测量仪QV日本三丰影像测量仪 mitutoyo 三丰福建总代理

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所在地址:福建省厦门市
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Hyper QV WLI 363 系列 — 非接触式 3D 测量机
规格
名称 项目 Hyper QV WLI 302 Hyper QV WLI 404 Hyper QV WLI 606 测量范围 (X×Y×Z) 影像测量区域 300×200×190 mm 400×400×240mm 600×650×220mm WLI测量区域*1 215×200×190 mm 315×400×240mm 515×650×220mm WLI光学测头装置 视场 (H×V) 5X镜头: 约0.64 × 0.48 mm / 10X镜头: 约0.32×0.24mm / 25X镜头: 约0.13×0.10mm 重复精度 2σ ≤ 0.08μm 影像光学测头装置 倍率装置 可编程电动转台1X -2X -6X 影像装置 黑白 CCD (1/2型)
测量精度*2

E1 X, E1Y轴 (0.8+2L/1000)μm E1 Z轴 (1.5+2L/1000)μm E2 XY平面 (1.4+3L/1000)μm 

? 1台设备即可实现坐标,尺寸和3D形状的非 接触测量。 

? 配有白光干涉仪的高精度、双镜头影像测 量机。

 ? 白光干涉仪利用高纵横比对形状进行准确 测量。 

? 标准影像测量功能能够连续不间断地进行 坐标、尺寸和3D形状测量。 

? 大工作台能准确地处理大尺寸工件,如印 制电路板。

Hyper QV WLI 363 系列 — 非接触式 3D 测量机
规格
名称 项目 Hyper QV WLI 302 Hyper QV WLI 404 Hyper QV WLI 606 测量范围 (X×Y×Z) 影像测量区域 300×200×190 mm 400×400×240mm 600×650×220mm WLI测量区域*1 215×200×190 mm 315×400×240mm 515×650×220mm WLI光学测头装置 视场 (H×V) 5X镜头: 约0.64 × 0.48 mm / 10X镜头: 约0.32×0.24mm / 25X镜头: 约0.13×0.10mm 重复精度 2σ ≤ 0.08μm 影像光学测头装置 倍率装置 可编程电动转台1X -2X -6X 影像装置 黑白 CCD (1/2型)
测量精度*2

E1 X, E1Y轴 (0.8+2L/1000)μm E1 Z轴 (1.5+2L/1000)μm E2 XY平面 (1.4+3L/1000)μm 

? 1台设备即可实现坐标,尺寸和3D形状的非 接触测量。 

? 配有白光干涉仪的高精度、双镜头影像测 量机。

 ? 白光干涉仪利用高纵横比对形状进行准确 测量。 

? 标准影像测量功能能够连续不间断地进行 坐标、尺寸和3D形状测量。 

? 大工作台能准确地处理大尺寸工件,如印 制电路板。


Hyper QV WLI 363 系列 — 非接触式 3D 测量机
规格
名称 项目 Hyper QV WLI 302 Hyper QV WLI 404 Hyper QV WLI 606 测量范围 (X×Y×Z) 影像测量区域 300×200×190 mm 400×400×240mm 600×650×220mm WLI测量区域*1 215×200×190 mm 315×400×240mm 515×650×220mm WLI光学测头装置 视场 (H×V) 5X镜头: 约0.64 × 0.48 mm / 10X镜头: 约0.32×0.24mm / 25X镜头: 约0.13×0.10mm 重复精度 2σ ≤ 0.08μm 影像光学测头装置 倍率装置 可编程电动转台1X -2X -6X 影像装置 黑白 CCD (1/2型)
测量精度*2

E1 X, E1Y轴 (0.8+2L/1000)μm E1 Z轴 (1.5+2L/1000)μm E2 XY平面 (1.4+3L/1000)μm 

? 1台设备即可实现坐标,尺寸和3D形状的非 接触测量。 

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Hyper QV WLI 363 系列 — 非接触式 3D 测量机
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名称 项目 Hyper QV WLI 302 Hyper QV WLI 404 Hyper QV WLI 606 测量范围 (X×Y×Z) 影像测量区域 300×200×190 mm 400×400×240mm 600×650×220mm WLI测量区域*1 215×200×190 mm 315×400×240mm 515×650×220mm WLI光学测头装置 视场 (H×V) 5X镜头: 约0.64 × 0.48 mm / 10X镜头: 约0.32×0.24mm / 25X镜头: 约0.13×0.10mm 重复精度 2σ ≤ 0.08μm 影像光学测头装置 倍率装置 可编程电动转台1X -2X -6X 影像装置 黑白 CCD (1/2型)
测量精度*2

E1 X, E1Y轴 (0.8+2L/1000)μm E1 Z轴 (1.5+2L/1000)μm E2 XY平面 (1.4+3L/1000)μm 

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名称 项目 Hyper QV WLI 302 Hyper QV WLI 404 Hyper QV WLI 606 测量范围 (X×Y×Z) 影像测量区域 300×200×190 mm 400×400×240mm 600×650×220mm WLI测量区域*1 215×200×190 mm 315×400×240mm 515×650×220mm WLI光学测头装置 视场 (H×V) 5X镜头: 约0.64 × 0.48 mm / 10X镜头: 约0.32×0.24mm / 25X镜头: 约0.13×0.10mm 重复精度 2σ ≤ 0.08μm 影像光学测头装置 倍率装置 可编程电动转台1X -2X -6X 影像装置 黑白 CCD (1/2型)
测量精度*2

E1 X, E1Y轴 (0.8+2L/1000)μm E1 Z轴 (1.5+2L/1000)μm E2 XY平面 (1.4+3L/1000)μm 

? 1台设备即可实现坐标,尺寸和3D形状的非 接触测量。 

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